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画像検査技術

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事業種類 実 績

FAシステム

回転光切断3次元計測装置

物体を高速回転させ、レーザーにより得られる物体の断面形状から側面を3次元形状を計測するシステム。独自アルゴリズムにより、耐ノイズ性を向上。

FAシステム

クリームはんだ焦点深度計測システム

プリント基板へのクリームはんだ溶融深度を計測。

FAシステム

パターン投影3次元計測装置

1カメラと1プロジェクタによるアクティブステレオ。ユニットを複数組み合わせることで全周計測に対応。

FAシステム

特定用途向け 非接触寸法計測

小型プロジェクタを使用し、用途に応じた構成で3次元計測を行います。非接触にて任意の寸法形状を高速に取得する事が可能。

FAシステム

自動反転機構付 表面状態検査装置

自動反転機構を内蔵することにより、短時間・省スペース化を実現。